综合物性测量系统
温度控制范围:1.9-350 K;温控精确度:±1%(从零场—9T); 温度扫描速度:最快达到12 K/min. 温度稳定性:±0.2% T< 10 K;±0.02% T> 10 K 系统磁场强度: 纵向磁体: ±9 T;场均匀性:±0.01% ;扫描速度: 1-200高斯/秒. 磁场分辨率: 0.02 mT,0
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